researcher / Bernard Courtois

Bernard Courtois

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Disciplines:

Applied sciences
Automotive engineering
Computer sciences
Electrical engineering
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Directed Thesis:

Modélisation de dispositifs à base de nanotubes de carbone pour la détection de biomolécules
Méthodes de simulation des erreurs transitoires à plusieurs niveaux d'abstraction
Outils CAO pour microsystèmes
Etude, conception et réalisation d'un capteur d'image APS en technologie standard CMOS pour des applications faible flux de type viseur d'étoiles
Conception de commutateurs micro-usinés sur silicium pour les réseaux tout optiques
Capteur intégré tactile d'empreintes digitales à microstructures piézorésistives
Conception de microcapteurs pH-ISFET faible bruit et d'inductances intégrées suspendues à fort facteur de qualité Q
Modélisation de fautes et conception en vue du test structurel des microsystèmes
Conception et réalisation d'un convertisseur électro-thermique à grande constante de temps en technologie microsystème pour un disjoncteur thermique
Techniques de conception des circuits intégrés analogiques pour des applications en haute température, en technologie sur substrat de silicium
Etude et conception de microsystèmes micro-usinés par la face avant en utilisant des technologies standards des circuits intégrés sur arséniure de gallium
Techniques de conception pour le durcissement des circuits intégrés face aux rayonnements
Approche à base de logique floue pour le test et le diagnostic des circuits analogiques
Etude et mise au point de la méthodologie de conception et de fabrication collective de microsystèmes sur silicium
Méthodes et outils pour la conception et la fabrication des microsystèmes
Test et diagnostic des cartes et des MCMs partiellement Boundary scan
Techniques avancées de test de circuits analogiques et mixtes analogiques/numériques
Industrialisation d'une méthode de localisation de défauts sur circuits intégrés par cristaux liquides
Le test unifié de cartes appliqué à la conception de systèmes fiables
Architecture et validation comportementale en VHDL d'un calculateur parallèle dédié à la vision
Traitement d'images en analyse de défaillances de circuits intégrés par faisceau d'électrons
Conception d'une famille de coprocesseurs parallèles intégrées pour le traitement d'images
Approches à base de connaissances pour le test de circuits VLSI : application à la validation de prototypes dans le cadre d'un test sans contact
Etude d'une stratégie d'autotest intégré pour le compilateur de silicium SYCO
Étude de faisabilité d'un micro-contrôleur de très haute sécurité
Analyse de défaillances de circuits VLSI par testeur à faisceau d'électrons
Conception et simulation d'architectures parallèles et distribuées pour le traitement d'images
Application des circuits intégrés autotestables à la sûreté de fonctionnement des systèmes
Sur la théorie du test des circuits digitaux : mesures de la confiance
Contribution à la compilation de silicium et au compilateur SYCO
Contribution à la définition et à la mise en oeuvre de NAUTILE
Contribution à NAUTILE : un environnement pour la compilation du silicium
Contribution au test des circuits intégrés CMOS : étude du test des pannes stuck-on et stuck-open
Etude de la contrôlabilité des circuits intégrés par faisceaux d'électrons
Compilateur de parties contrôle de microprocesseurs
Laios : un réseau multiprocesseur orienté vers des applications d'intelligence artificielle
Optimisation du contraste image en microscopie optique : application à l'inspection microélectronique
Conception de parties contrôles de circuits VLSI : application au coprocesseur arithmétique FELIN
Le test des PLAs optimisés topologiquement
Conception de VLSI : applications au calcul numérique
Compilation de silicium : application à la compilation de parties contrôles
Moniteur d'un système fonctionnellement réparti
Parallélisme dans une machine base de connaissances Prolog
Optimisation et compromis surface-vitesse dans le compilateur de silicium SYCO
Outils de CAO et conception structurée de systèmes intégrés sur silicium
Contribution à la vérification des circuits intégrés dans un environnement multivalué
Définition, étude et conception d'un microprocesseur autotestable spécifique : cobra
Modélisation de pannes et méthodes de test de circuits intégrés CMOS
Génération automatique de parties opératives de circuits VLSI de type microprocesseur
Irene : un langage pour la description, simulation et synthèse automatique du matériel VLSI
Reprise de processus dans un environnement distribué après pannes matérielles transitoires ou permanentes
Conception de contrôleurs autotestables pour des hypothèses de pannes analytiques