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researcher / Jean-Pierre Fillard

Jean-Pierre Fillard

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Disciplines:

Electrical engineering

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Directed Thesis:

Microscopie à saut de phase : défauts dans les emiconducteurs et les couches transparentes

Analyse fréquentielle d'image pour une résolution subpixel : Etude d'un système nanolidar appliqué à la localisation des défauts dans les composants III-V

Application des méthodes morpho-mathématiques d'analyse d'images à l'évaluation des défauts dans les wafers d'arséniure de gallium