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researcher / Jean-Pierre Charles

Jean-Pierre Charles

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Disciplines:

Electrical engineering

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Directed Thesis:

Fiabilité fonctionnelle et mécanismes de dégradation des TRIACs soumis aux chocs thermiques par di/dt à la fermeture

Utilisation des transistors MOS à effet de champ de type COTS en environnement radiatif ionisant

Étude des effets des irradiations neutron sur des structures MOS, technologie N-MOS, par spectroscopie DLTS mesures capacitives

Caractérisation des dégradations des IGBTS en milieu industriel

Caractérisation de structures MOS submicroniques et analyse de défauts induits par irradiation gamma : extrapolation aux défauts induits dans les oxydes de champ des transistors bipolaires

Analyse des défauts induits par irradiations ionisante et à effets de déplacement dans des structures MCT (MOS Controlled Thyristor) à partir de mesures électriques et par simulation