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Joël Chevrier
Joël Chevrier
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Vers une détermination sans contact des propriétés mécaniques de matière condensée molle avec AFM
Caractérisation à l'échelle micro/nanométrique par Force Feedback Microscope
Nano-optomécanique au coeur d'un faisceau laser focalisé : cartographie du champ de force optique et action en retour bidimensionnelle
Que peut-on faire avec un microscope à force atomique dans un porte échantillon d'un synchrotron ?
Systèmes nano électro mécanique et intéractions à l'échelle nanométrique
De l'amplification paramétrique en microscopie a force électrique a la microscopie a grille locale d'anneaux quantiques
Vers un microscope de force de Casimir : mesure quantitative de forces faibles et nanopositionnement absolu
Ultra-trace analysis of contaminants on silicon wafer surfaces : the development of a Synchrotron Radiation - Total reflection X-Ray Fluorescence (SR-TXRF) facility at the ESRF
Ordre à courte et à longue distance dans le quasicristal Al-Pd-Mn
Stabilisation et morphologie de la surface de symétrie cinq du quasicristal Al70Pd20Mn10