researcher / Pierre Ruterana

Pierre Ruterana

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Disciplines:

Materials science and engineering
Physics
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Thesis:

Structure des interfaces, etude par microscopie electronique en transmission, application : materiaux semiconduteurs iii-v et multicouches pour optiques dans le domaine des rayons x mous

Directed Thesis:

Investigation of the Phase transformation in FePtM nanoparticles (M= Ag, Cu) at atomic scale for optimized oxygen reduction catalysis.
Analyse de la structure locale et propriétés optiques de semiconducteurs nitrures pour le développement des diodes électroluminescentes efficaces au-delà du vert.
The atomic struture of inversion domains and grain boundaries in wurtzite semonconductors : an investigation by atomistic modelling and high resolution transmission electron microscopy
Relaxation de la contrainte dans les hétérostructures Al(Ga)InN/GaN pour applications électroniques : modélisation des propriétés physiques et rôle de l'indium dans la dégradation des couches épitaxiales
Strain relaxation in InGaN/GaN herostructures
Investigation of ternary ΑlΙnΝ and quaternary ΑlGaΙnΝ alloys for high electron mobility transistors by transmission electron microscopy
Structure des Couches d’InN et d’alliages (In,Al)N
Comportement des semiconducteurs de structure wurtzite à base d'azote sous implantation d'ions terres rares de moyenne énergie
Etude par microscopie électronique en transmission des composés semiconducteurs nitrures de structure wurtzite
Les propriétés structurales et électroniques des alliages AlxGa1-xN, InxGa1-xN, et InxAl1-xN : étude par la méthode ab initio des ondes planes augmentées avec linéarisation et potentiel total
Structure de couches de composes semi-conducteurs iii-v a large bande interdite, nitrure de gallium ou d'aluminium, epitaxiees sur carbure de silicum, par microscopie electronique en transmission
Structure atomique des macles dans les metaux a symetrie hexagonale