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François Vurpillot
François Vurpillot
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Physics
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Nouvelle méthode d'imagerie 3D et d'analyse quantitative des défauts ponctuels et amas de défauts pour l'étude du vieillissement des matériaux.
Nouvelle génération de détecteurs d'ions sensible en position et en temps pour le développement de la sonde atomique tomographique
Atom Probe-Based Correlative Multi-Microscopy for the Study of Low-Dimensional Semiconductors
Evaporation par effet de champ contrôlée précisément par effet électro-optique : application au développement de la sonde du futur
Reconstruction 3D des images de Sonde Atomique Tomographique : dynamique d'évolution de l'émetteur et biais associés