researcher / Yves Danto

Yves Danto

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Disciplines:

Electrical engineering
Natural sciences
Physics
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Directed Thesis:

Caractérisation des dégradations induites par un faisceau d'ions focalisé sur des circuits intégrés
Conception et réalisation d'un système ultrasonore à balayage appliqué au diagnostic de défauts dans les microassemblages : contribution à l'aide à l'interprétation par traitement de l'image et du signal
Localisation de défauts dans les circuits intégrés complexes dont le dessin des masques est inconnu
Analyse de défaillances dans les condensateurs céramique multicouches par la résonance piézoélectrique
Conception, réalisation et validation d'un circuit intégré de test pour la fiabilisation des technologies d'encapsulation plastique
Etude d'assemblages microélectroniques soumis à des cyclages thermiques : application aux choix technologiques
Développement d'une méthodologie et des techniques d'analyse associées permettant l'évaluation de la qualité et de la fiabilité des transistors à haute mobilité électronique
Application de la gravure laser directe à la personnalisation des circuits intégrés et à la fabrication de modules d'interconnexion multipuces en technologie couches minces
Elaboration d'une méthodologie de localisation de défauts sur circuits intégrés logiques par test sous faisceau d'électrons : application à différentes fonctions électroniques
Etude du comportement thermomécanique et de la fiabilité d'assemblages de composants montés en surface, utilisés en environnement automobile sévère
Etude des effets parasites du transistor à haute mobilité électronique : corrélation avec les aspects technologiques et la fiabilité
Etude et mise au point d'une station de photolithographie par faisceau laser hélium cadmium pour la personnalisation de circuits microélectroniques
Évaluation de la qualité et de la fiabilité de condensateurs utilisés dans les circuits microélectroniques
Analyse technologique et électrique des dispositifs basés sur le transistor à effet de champ à grille Schottky sur arséniure de gallium
Elaboration et caractérisation des siliciures utilisés comme matériaux de grille ou d'interconnexion dans les circuits VLSI
Détection et localisation de défauts dans les circuits intégrés logiques par test sous faisceau laser
Contribution à l'étude de la technologie bipolaire STL : caractérisation, modélisation et simulation de diodes Schottky TiW-Si et PtSi-Si
Test de circuit intégrés par faisceau d'électrons : étude de la mesure de potentiel à travers les couches isolantes