Disciplines
Institutions
Contribute
Search
Add Thesis
Add Researcher
Add Institution
researcher /
Jean Oualid
Jean Oualid
at_id:
orcid_id:
Disciplines:
Electrical engineering
Physics
Edit
Merge
See Links
Directed Thesis:
Caractérisation des différents types de défauts crées par injection Fowler-Nordheim dans les capacités MOS. Relation avec le claquage
Caractérisation des défauts dans les dispositifs à technologie MOS : défauts créés par injection Fowles-Nordheim
Système automatique de caractérisation paramétrique de composants semiconducteurs
Analyse des transitoires de capacité et des courants de fuite dans les structures MOS