Abstract FR:

Étude d'une modélisation et d'une simulation d'un procédé de fabrication et d'un comportement électrique des circuits intégrés. Le critère fiabilité-économique minimise le coût de production avec une fiabilité supérieure à une valeur de satisfaction. Les valeurs optimales des paramètres des circuits à très haute intégration sont obtenues par une décomposition en sous-problèmes basée sur un partitionnement du circuit en sous-circuits à partir du graphe de corrélation et du graphe électrique. La méthode de programmation stochastique permet de calculer les valeurs nominales et les tolérances optimales des paramètres du sous-circuit. Les paramètres optimaux du circuit VLSI sont calculés à partir de l'optimisation des sous circuits successifs.