Abstract FR:

Etude de la croissance de couches minces d'or obtenues par évaporation thermique sous ultravide sur des substrats de verre: mesure des propriétés optiques (réflexion et transmission), de la conductivité électrique et de l'épaisseur massique durant le dépôt. Etude complétée par des mesures optiques effectuées à l'air (0,35 à 3,0mu m) et une analyse de la morphologie des défauts par microscopie électronique à transmission. Analyse statique de la structure des amas des couches proches du seuil de percolation. Etude de la formation diélectrique (epsilon =epsilon ::(1) + iepsilon ::(2)) des couches au voisinage de la percolation.