Abstract FR:

Etude de la surface d'un cristal de lif par mesure de la reflexion speculaire en fonction de l'angle d'attaque, on analyse de la distribution angulaire du rayonnement diffuse a des angles proches de l'angle critique. Depot sur le cristal de lif de multicouches w/si comportant un nombre variable de bicouches. Les differentes etudes menees sur ces echantillons, reflectivite selective de bragg, reflexion speculaire et analyse de la distribution angulaire du rayonnement diffuse, montrent qu'il y a transmission des rugosites du substrat aux differentes interfaces d'une multicouche w/si