thesis

Contribution a l'etude par microscopie electronique en transmission de defauts de croissance dans les heterostructures iii-v

Defense date:

Jan. 1, 1986

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Institution:

Toulouse 3

Disciplines:

Abstract EN:

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Abstract FR:

Observation des structures gaas/gaas, algaas/gaas, gainp/gaas et isolant/semiconducteur. Controle de la qualite des couches deposees et des interfaces mis en jeu. Caracterisation des defauts de composition chimique et des defauts cristallins