Outils pour la spectroscopie en champ proche optique : application à l'imagerie hyperspectrale
Institution:
Paris 11Disciplines:
Directors:
Abstract EN:
Optical studies of single nanoobjects imply the development of tools allowing a high spatial selection and of high optical sensitivity. I have implemented a set-up dedicated to such studies, by combining scanning near-field optical microscopy and fluorescence or Raman spectroscopy. The analysis of single nanoobject properties is derived from hyperspectral optical imaging. Both the total intensity of the emitted signal and its spectrum are recorded at each location of the probed sample area. For that purpose, I have built specific devices, among which an original all electric sensor to measure distances in the nanometer range. It is based on shear force principle. The movement of the sample is obtained with a 50 micronmeters dynamical range flat scanner including piezoelectric tubes. An optical sensor, that I have developed, controls the scanner displacement in order to compensate the scan for the near-field region. . . .
Abstract FR:
L'étude optique d'objets individuels de taille nanométrique (nanoobjets) suppose de développer des outils de sélection spatiale et d'analyse optique à des échelles "ultimes". J'ai réalisé un dispositif dédié à ce type d'études, en combinant la microscopie optique en champ proche à balayage et des méthodes spectroscopiques de fluorescence ou de diffusion Raman. Les informations sur les nanoobjets sont obtenues par imagerie optique hyperspectrale. En chaque point exploré de l'échantillon sont acquis le flux total du signal émis et son spectre enregistré sur un grand domaine spectral. J'ai élaboré à cet effet des dispositifs instrumentaux spécifiques parmi lesquels un capteur de distances nanométriques original, de type "shear-force", entièrement électrique. Le balayage de l'échantillon est assuré par un scanner de 50 micronmètres de dynamique que j'ai réalisé a l'aide d'actionneurs piézoéléctriques. L'hystérésis est compensée par un capteur optique de positions indispensable au re ositionnement précis d'un objet dans la zone d'excitation de champ proche. . .