Abstract FR:

Ce travail concerne la caracterisation structurale et l'etude de l'interdiffusion dans les superreseaux contraints cdte/cdznte et cdte/hgte, elabores par epitaxie par jets moleculaires, au moyen de la double diffraction de rayons x. Les parametres structuraux (composition, epaisseur, etat de deformation) sont obtenus de facon precise en utilisant conjointement l'experience et la simulation en theorie cinematique. Les coefficients d'interdiffusion des couples cd/zn (400c) et cd/hg (200c) sont mesures par diffraction x. Ils permettent de calculer les profils de concentration des superreseaux en fonction de la temperature et du temps de recuit. Par extrapolation, nous precisons les conditions de croissance pour obtenir des interfaces raides, qui sont necessaires pour des dispositifs optoelectroniques performants