Etude en champ proche de sources plasmoniques actives dans le proche infrarouge et méthode d'imagerie basée sur l'action d'un champ électromagnétique sur une pointe
Institution:
Paris 6Disciplines:
Directors:
Abstract EN:
In this thesis, we adapt an aperture scanning near-field optical microscope (SNOM) featuring an aluminum hollow pyramid as a probe, for a use in the near-infrared range (NIR). We apply this SNOM system to characterize tensile-strained quantum well laser diodes with a metallic patterning designed for an electrical and integrated generation of surface plasmons-polaritons (SPPs) at the telecom wavelengths. SPPs are generated by structuring the top surface of the diode ridge with a gold grating. The study of the transverse mode field distribution also allows us to analyze the influence of the metallic layer on the cavity and to show the eventual existence of a hyrid plasmonic mode. We also develop a broadband super-resolution imaging technique based on the action of an intensity-modulated electromagnetic field on an atomic force microscopy tip. The study as a function of the modulation frequency shows several regimes where different mechanisms are involved in the field-tip interaction. We also validate its ability to probe evanescent fields and subwavelength apertures in a metallic film, from the visible range up to the mid-IR.
Abstract FR:
Dans cette thèse, nous adaptons un microscope optique en champ proche à ouverture (SNOM) utilisant une sonde pyramidale creuse et métallisée avec une nano-ouverture au sommet, pour une opération dans le proche infrarouge (IR). Nous employons ce microscope SNOM pour caractériser des diodes laser à multipuits quantiques contraints munies de structures métalliques et conçues pour la génération électrique et intégrée de plasmons-polaritons de surface (SPPs) aux longueurs d’onde télécom. Ces derniers sont excités en structurant la surface du ruban laser avec un réseau en or. L’étude de la distribution du champ dans le plan transverse sur la facette des dispositifs permet également d’analyser l’influence de la structuration métallique sur la cavité et de démontrer un éventuel couplage entre les modes diélectriques et les modes SPPs. Nous développons enfin une technique d’imagerie super-résolue à large plage spectrale (visible-proche IR-IR) exploitant l’action d’un champ électromagnétique modulé en intensité sur la pointe d’un microscope à force atomique. L’étude en fonction de la fréquence de modulation permet de distinguer plusieurs mécanismes mis en jeu dans l’interaction champ-pointe. Nous validons sa capacité à sonder des champs évanescents et des ouvertures sub-longueur d’onde dans un écran métallique, pour une gamme allant du visible jusque dans le moyen IR.