Abstract FR:

Cette etude se place dans le cadre du developpement de methodes d'analyses in-situ de mineraux, en vue d'applications en planetologie. La technique de mesure choisie est la spectrometrie de masse d'ions secondaires utilisant un analyseur de type quadripole. Le travail realise ici a permis de mettre au point une procedure d'analyse elementaire quantitative d'echantillons isolants et a calibrer l'instrument. La procedure d'analyse consiste a reduire en poudre l'echantillon et a le deposer sur un support pur conducteur de maniere a obtenir, sous bombardement ionique, une compensation des charges apparaissant a la surface des grains isolants. La calibration, basee sur l'analyse d'echantillons etalons appartenant a deux series minerales courantes en planetologie: olivines et plagioclases, permet d'obtenir une precision d'analyse sur les constituants majeurs de ces mineraux d'environ 1% a 2%. Cette precision est atteinte apres la prise en compte de la stchiometrie des mineraux et d'un effet de matrice intervenant dans l'emission des ions secondaires: cet effet est interprete a l'aide d'un modele simple