Abstract FR:

Nous avons concu et realise un systeme de mesure d'impedance de surface z#s de films minces conducteurs ou supraconducteurs par couplage electromagnetique de ces films a un oscillateur a diode tunnel. La mesure de la resistance de films metalliques (or et aluminium) par cette technique inductive (sans contact) nous a permis, en comparant aux mesures directes (4 fils), de valider cette methode. Nous avons ensuite etudie la reponse electromagnetique de films supraconducteurs d'yba#2cu#3o#7 et de multicouches yba#2cu#3o#7/la#2##xsr#xcuo#4. Cette etude a mis en evidence le caractere granulaire de ces materiaux reflete par des valeurs trop elevees de la profondeur de penetration () et la presence d'une resistance residuelle dans la phase supraconductrice. Le comportement de en fonction de la temperature indique que le couplage intergranulaire serait de type sis dans le cas de films et sns dans le cas des multicouches etudiees. Cette difference devrait avoir son origine dans les procedes et conditions de fabrication de ces echantillons