Diagnostics pour faisceaux d'électrons à forte brillance et leurs applications à la dynamique de faisceau dans un laser à électrons libres supraconducteur avec système de récupération d'énergie
Institution:
Université Joseph Fourier (Grenoble)Disciplines:
Directors:
Abstract EN:
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Abstract FR:
Un laser a electrons libres infrarouge (irfel) utilisant un accelerateur supraconducteur avec systeme de recuperation d'energie a ete construit et recemment mis en route a thomas jefferson national accelerator facility. Le systeme se compose principalement d'un injecteur, dont la source d'electrons est basee sur l'effet photoelectrique. Cette source peut produire des paquets d'electron fortement charges (60 pc) ultra-court (1 ps), ayant une energie de l'ordre de 10 mev. Ces electrons sont ensuite injectes dans un accelerateur lineaire ou ils sont acceleres jusqu'a une energie pouvant atteindre 48 mev. Le systeme de production de lumiere se compose d'un onduleur plan dont l'emission spontanee est amplifiee grace a une cavite optique resonnante. Le present rapport decrit les diagnostics qui ont ete developpes afin de caracteriser les espaces de phase transversaux et longitudinal du faisceau d'electron de l'accelerateur. Nous decrivons aussi les applications de ces diagnostics a quelques problemes de dynamique de faisceau. Quand cela fut possible nous avons tente de comparer les resultats de nos mesures avec des simulations numeriques.