thesis

Corrélation entre la microstructure et les propriétés optiques des couches multiélectriques

Defense date:

Jan. 1, 1987

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Institution:

Aix-Marseille 3

Disciplines:

Directors:

Abstract EN:

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Abstract FR:

On recherche la correlation entre l'etat de la microstructure et les conditions de preparation des couches minces, a l'aide de cliches obtenus par microscopie electronique. Difficulte pour interpreter parametriquement les phenomenes observes. Interet des techniques d'evaporation assistee par faisceaux d'ions. Etude des conditions de propagation guidee dans les systemes multicouches