Abstract FR:

Les dispositifs de mesure faisant appel aux techniques d'imagerie connaissent un essor important depuis quelques annees. En general, ces systemes sont concus autour de capteurs matriciels permettant d'enregistrer la geometrie et l'intensite du phenomene physique observe ainsi que son evolution au cours du temps. Apres avoir decrit une chaine de mesure standard d'imagerie (neutron, gamma ou x) developpee et realisee par le commissariat a l'energie atomique (cea) pour des experiences de physique haute energie, nous exposons les caracteristiques a mesurer pour etalonner les differents systemes mis en uvre. Les systemes d'imagerie (cameras a echantillonnage d'image 2-ns, amplificateurs de brillance, endoscopes et une camera de reference de grande dynamique) ont fait l'objet d'une caracterisation approfondie. Plusieurs etudes de metrologie ont ete entreprises de maniere detaillee. Elles ont necessite le developpement de methodes originales et de moyens adaptes pour la caracterisation fine et le reglage precis sur le banc des dispositifs etudies. Ces mesures concernent plus particulierement: la fonction de transfert de modulation 1-d et 2-d, la fonction de transfert d'amplitude (linearite), le bruit de base et le bruit sur signal, le profil d'ouverture spatio-temporel effectif 2-d et les distorsions geometriques. Une description exhaustive et une caracterisation complete du banc de mesure developpe et sans cesse ameliore durant la these sont presentees ainsi que le logiciel associe permettant l'acquisition, la visualisation et le traitement des images necessaires aux etudes de metrologie. De nombreuses etudes concernant la modelisation et la simulation numerique de phenomenes physiques viendront aussi completer les mesures pour une meilleure comprehension du fonctionnement des capteurs d'images et de la precision associee a chaque type de mesure. Des methodes originales de traitement du signal et de traitement d'images seront aussi explicitees pour une meilleure exploitation des mesures et la correction des deformations engendrees par un capteur