Abstract FR:

L'objectif de ce travail etait d'etablir des correlations entre les resultats de mesure par radiometrie photothermique et ceux obtenus par test de rayure. Les problemes poses concernent les materiaux assembles en contact intime. La barriere thermique correspond a une resistance thermique de l'ordre de 10#-#7 m#2. K. W#-#1. Afin de preparer la caracterisation de l'interface par des techniques inverses, nous avons represente celle-ci dans un modele thermocinetique. Nous avons effectue une etude de sensibilite aux differents parametres intervenant dans la reponse photothermique. La faible epaisseur des revetements tin utilises (quelques micrometres) nous a amenes a mettre au point un dispositif de radiometrie photothermique utilisant des frequences de modulation allant jusqu'a 100 khz. Cette etude nous a permis de poser les bases d'un futur dispositif d'expertise industrielle. Nous avons constate, pour la frequence optimale d'analyse des depots tin, une correlation entre la dispersion des valeurs de phase et les resultats du test destructif d'adherence utilise: le test de rayure. Pour la caracterisation de l'interface, il est necessaire de connaitre precisement, sur la surface d'analyse thermique, les proprietes structurelles et thermophysiques de l'interface, du revetement et du substrat