Abstract FR:

Nous avons mis au point des diagnostics spectroscopiques x en vue d'etudier la production d'ions tres charges par des sources a resonance cyclotronique electronique. L'etude du plasma de la source, lors de la production d'ions krypton de charge superieure a 27+, permet d'estimer la densite d'une population electronique d'energie voisine de 30 kev a 10#1#1 electrons-cm#3. L'un des diagnostics permettant la mesure de courants inferieurs au pa montre que les sources de type minimafios alimentees par des emetteurs de frequences differentes (14-18 ghz) ont des performances equivalentes pour les ions argon 17+ ou 18+. Des experiences d'interaction d'ions argon 17+ sur des surfaces metalliques ont permis d'observer de nouvelles especes ioniques, appelees atomes creux, ayant pour particularite d'avoir les couches internes quasiment vides (1 electron k et aucun electron l) et de nombreux electrons sur les couches externes. En incidence normale, ces ions sont formes, apres traversee de la surface, sur une distance de quelques couches atomiques. Les observations en incidence rasante nous ont permis de mettre en evidence qu'une faible proportion en incidence rasante nous ont permis de mettre en evidence qu'une faible proportion d'atomes creux etait cree a l'exterieur du solide. Pour des angles d'incidence inferieurs a 6, l'ion capture des electrons sur la couche n=6 et a suffisamment de temps pour se desexciter avant de toucher la surface