Abstract FR:

Dans ce travail nous avons mis au point un appareil de reflectometrie x base sur un nouveau principe: le mode angulaire dispersif. L'echantillon est cette fois eclaire par un faisceau de rayons x divergent issu d'un tube scelle a foyer lineaire. Un couteau en tantale situe pres de la surface de l'echantillon absorbe le faisceau direct. Un monochromateur arriere selectionne la longueur d'onde caracteristique de l'anticathode. L'utilisation d'un detecteur lineaire a localisation permet d'enregistrer les faisceaux reflechis dans un large domaine angulaire. Cette configuration a l'avantage de supprimer tout mouvement pendant la mesure. Les temps d'enregistrement sont alors considerablement reduits (quelques minutes). En plus, les surfaces des echantillons analyses peuvent etre de l'ordre du mm#2. Les intensites absolues sont plus difficilement exploitables que dans le cas d'un montage goniometrique classique. Cette difficulte est notamment liee au mode angulaire dispersif, et a la presence du couteau pres de la surface de l'echantillon. Nous montrons cependant que sous certaines conditions (linearite du foyer, diffusion coherente negligeable), les courbes de reflexivite peuvent etre normalisees