Etude des reactions ion-molecule et d'attachement electronique a temperature ultra-basse par la methode cresu
Institution:
Rennes 1Disciplines:
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Abstract FR:
Une etude experimentale portant sur la determination du coefficient de vitesse en fonction de la temperature de reactions ion-molecule et d'attachement electronique est presentee dans ce rapport. Cette etude a ete effectuee au moyen de la technique cresu qui permet d'atteindre de tres basses temperatures en generant un jet supersonique uniforme par detente isentropique au travers d'une tuyere de laval. La premiere partie de ce rapport concerne l'etude de deux reactions ion-molecule : cl# + ch#3br et o#+ + no. S'agissant de la premiere, elle est caracterisee par un coefficient de vitesse k relativement faible a 300 k qui decroit faiblement quand la temperature augmente. L'etude de la cinetique de cette reaction jusqu'a 23 k a montre une augmentation drastique de k. Le coefficient de vitesse de la reaction o#+ + no est connu pour etre faible a 300 k et pour croitre quand la temperature augmente. Les mesures que nous avons realisees jusqu'a 23 k ont egalement montre une augmentation de k. Dans les deux cas, ces mesures nous ont permis de donner une interpretation du processus reactionnel. La deuxieme partie de ce memoire est consacree a l'etude des reactions d'attachement electronique. Elle a consiste dans un premier temps a nous interesser au probleme de la thermalisation des electrons dans le plasma ainsi qu'a la determination du coefficient d'attachement electronique au moyen de la sonde de langmuir. Les resultats obtenus sur les molecules sf#6, cf#3br et ccl#2f#2, en fonction de la temperature, montrent tres clairement que la technique cresu constitue un moyen efficace pour mesurer le coefficient de vitesse de ce type de processus dans des conditions d'equilibre thermique jusqu'a de tres basses temperatures. Ces resultats nous ont egalement permis de mettre en evidence l'importance des etats internes des molecules reactantes dans le processus d'attachement electronique.