Abstract FR:

Etude theorique des divers aspects des phenomenes critiques bidimensionnels par des methodes essentiellement analytiques: transformation en modeles de champ libre, exploitation de la symetrie conforme. Determination des valeurs exactes d'exposants critiques, et des expressions des fonctions de partition et des fonctions de correlation. Test d'un certain nombre de resultats par des calculs de matrice de transfert ou des simulations de monte carlo