thesis
Techniques de caractérisation sous vide des couches minces optiques : application à la réalisation de filtres pour les démultiplexeurs des télécommunications optiques
Institution:
Aix-Marseille 3Disciplines:
Directors:
Abstract EN:
Pas de résumé disponible.
Abstract FR:
Developpement d'une technique de determination de l'indice de refraction et de l'epaisseur au cours du depot des couches. Les resultats de ces mesures classiques effectuees a l'air au moyen d'un spectrophotometre de precision. Application au controle precis de la fabrication de filtres multidielectriques