Abstract FR:

Cette these etudie, depuis la conception jusqu'a l'interpretation des resultats physiques, un nouveau diagnostic d'etude du gradient de densite electronique dans la zone de transport surcritique d'un plasma laser (0,35 m). Ce diagnostic, dit de strioscopie x-uv, est fonde sur la propriete de refraction d'une sonde par un gradient d'indice. Sa particularite est d'utiliser l'emission x-uv a 13 nm (92 ev) d'un plasma laser annexe comme sonde x-uv. La conception et la caracterisation de ce diagnostic font simultanement appel aux proprietes emissives et refractantes des plasmas laser et aux proprietes de reflexion des multicouches. Nous presentons des images de strioscopie spatialement et spectralement resolues d'un plasma d'aluminium d'un flux laser de 3. 10#1#2 w/cm#2 sonde avec un rayonnement x-uv de longueur d'onde 13 nm. Le diagnostic doit etre tres precisement aligne pour obtenir un bon contraste et une bonne resolution spatiale. Nous mettons alors en evidence, pour la premiere fois, la refraction d'une sonde x-uv par un plasma laser. Les experiences montrent qu'elle est particulierement visible pour les couples d'energies laser sur le plasma sonde et le plasma sonde de (150 ; 1 j) et pour les couples de materiaux (or ; aluminium). La refraction observee correspond selon un code de simulation de l'hydrodynamique du plasma, a un gradient de densite electronique de 6,5. 10#2#5 electrons/cm#4 dans les 2 premiers microns de la zone surcritique. Pour etudier les dependances parametriques du gradient de densite electronique dans la zone surcritique, nous proposons plusieurs ameliorations