Abstract FR:

Nous montrons d'un point de vue théorique et pratique comment les caractéristiques du rayonnement synchrotron en font une source de rayonnement parfaitement adaptée à l'analyse de traces par fluorescence x. Ceci nous a amené à développer de nouvelles techniques concernant aussi bien l'excitation de l'échantillon que la détection et l'analyse du spectre de fluorescence x qui seules permettent de tirer tout le bénéfice potentiel presente par cette nouvelle méthode. Des exemples variés d'applications illustrent les possibilité de cette méthode