thesis

Etude et realisation d'un dispositif de mesure, dans le spectre infrarouge, de l'emissivite des materiaux opaques

Defense date:

Jan. 1, 1986

Edit

Institution:

Paris 6

Disciplines:

Physics

Authors:

Directors:

Abstract EN:

Pas de résumé disponible.

Abstract FR:

Mesure directe de l'emissivite spectrale directionnelle d'echantillons dans le domaine spectral 3 microns a 11 microns en fonction de l'angle d'observation, de la longueur d'onde du rayonnement et de la temperature. Possibilite de mesure indirecte par l'intermediaire de la brdf