thesis

Croissance et caracterisation des films minces granulaires de co-ag obtenue par epitaxie par jets moleculaires

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Jan. 1, 1996

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Nous presentons une etude des caracteristiques structurales des films minces d'un systeme granulaire de type co-ag, obtenus par mbe a trois temperatures distinctes: ta, tm, (250c) et th (450c) et nous correlons les proprietes structurales et microstructurales au comportement magnetique de ces echantillons. La microstructure des echantillons est determinee par diverses methodes d'analyses: in-situ par diffraction d'electrons rapides en incidence rasante (rheed) et ex-situ par diffraction de rayons x, microscopie electronique a transmission (hrtem) et microscopie a force atomique (afm). Nous avons analyse in-situ l'influence de la temperature du substrat pendant la croissance sur la structure des films minces d'argent pur et de systeme granulaire co-ag. Ces observations ont montre que la qualite cristalline de ces films s'ameliore avec la temperature de depot. L'analyse ex-situ des echantillons revele une structure granulaire, texturee selon l'axe de croissance: l'axe c de la structure. A ta, ces analyses indiquent l'inclusion des impuretes du cobalt dans le reseau d'argent et a partir de tm, le systeme est progressivement demixce en presentant des regions riches en cobalt et des regions riches en argent heteroepitaxies sur la couche tampon de ruthenium. Cette etude a montre egalement l'importance de la caracterisation structurale et microstructurale dans la determination des proprietes magnetiques et magnetoresistives. En particulier, la magnetoresistance depend de la taille moyenne des grains magnetiques, de leur distance mutuelle ainsi que la purete de la matrice d'argent