Abstract FR:

La connaissance parfaite des parametres geometriques et physico-chimiques d'un materiau de volume module periodiquement, donne une bonne connaissance de la figure de diffraction. Celle-ci a une grande importance technologique et scientifique. Le profil de modulation (donne par ses coefficients de fourier) est l'un de ces parametres qui ne peut etre determine a posteriori qu'a partir de la repartition d'intensite entre les differents ordres. A partir de cette idee, nous avons etabli une methode exacte permettant l'etude de la diffraction d'une onde plane electromagnetique par un reseau dielectrique, qui conduit au traitement numerique d'une equation differentielle a coefficients variables. La methode est donnee pour le cas classique ou le champ electrique est parallele au plan du reseau. Des resultats relatifs au comportement des reseaux sinusoidaux sont compares a ceux obtenus par le formalisme des ondes couples. On etudie en detail l'influence des differents parametres, en particulier l'epaisseur. Pour analyser l'influence du profil de modulation, on considere des modeles mathematiques realistes et non comme il est courant dans la litterature des modeles physiquement irrealisables. La validite des resultats est discutee