Abstract FR:

Les sources de rayonnement synchrotron de la troisieme generation, comme l'esrf, permettent de generer un faisceau de rayons x de brillance elevee, correspondant a une tres faible valeur de l'emittance du faisceau d'electrons stocke. Un dispositif permettant une mesure simple et rapide de ce dernier parametre revet donc une grande importance pour l'amelioration des performances de la source. Compte tenu de la petite taille du faisceau et de l'importance de la puissance emise, les methodes de diagnostic habituelles sont difficiles a utiliser. Cette these presente trois types de systemes de mesure, utilisant les rayons x durs emis par effet synchrotron. Ils sont respectivement bases sur: la mesure de la taille du faisceau d'un onduleur, l'utilisation de systemes optiques x (lentille de bragg-fresnel, cristal asymetrique) pour mesurer la taille de la source au niveau d'un onduleur, l'utilisation d'un stenope pour mesurer la taille de la source dans un aimant de deviation. Les methodes presentees ici presupposent toutes une connaissance a priori de l'optique de l'anneau de stockage. Deux d'entre elles ont ete automatisees et fournissent un suivi regulier de l'emittance. Des emittances de 0. 05 nm. Rad ont pu etre mesurees