Caracterisation de delaminages par interferometrie de speckle a cisaillement avec sollicitation thermique ou mecanique
Institution:
Paris 6Disciplines:
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Abstract FR:
Le travail presente dans ce memoire contribue au developpement des moyens de controle non destructif par interferometrie de speckle. Ces techniques, derivees de l'interferometrie holographique, permettent une inspection rapide, plein champ et sans contact de la structure a controler. Parmi elles, l'interferometrie de speckle ou shearographie, se distinguent par sa facilite de mise en uvre et sa relative insensibilite aux bruits environnants. Son utilisation reste toutefois tres qualitative car l'interpretation des resultats de la mesure se heurte a la meconnaissance de la forme du signal obtenu pour un defaut de caracteristiques connues et une sollicitation donnee de la piece a inspecter. Une etude systematique du comportement d'un materiau contenant un delaminage circulaire est menee pour les deux cas d'une sollicitation thermique et par depression. Les deformations induites sont calculees par la methode des elements finis. Dans chaque cas, des abaques decrivant le comportement de la reponse vis a vis des parametres caracteristiques du defauts sont deduits des calculs. Une procedure d'inversion de mesures par interferometrie de speckle, permettant d'estimer le diametre et la profondeur d'un defaut a partir de grandeurs mesurees experimentalement est ensuite decrite. A la fin de ce memoire, est presentee une application specifique de la shearographie a la visualisation d'ondes de surface et notamment d'ondes de plaque (ou ondes de lamb) dans des materiaux composites, grace a l'utilisation d'un eclairage stroboscope. On montre que cette technique permet d'estimer la longueur d'onde ultrasonore et de detecter des delaminages. Ceux-ci son reveles par une perturbation locale du systeme ondulatoire observe. Grace a une synchronisation specifique de l'eclairage, il est possible de visualiser des trains d'ondes plutot qu'une onde harmonique continue et de s'affranchir ainsi des problemes de reflexions sur les bords de l'echantillon.