Abstract FR:

La spectrometrie compton des rayons x est une technique tres puissante pour l'etude de la densite electronique des materiaux dans l'espace des moments. Cette methode, particulierement adaptee a l'etude des electrons externes (valence ou conduction) dans un solide, constitue un test precis des fonctions d'onde calculees dans l'etat fondamental. L'ouverture de la ligne id15b a l'esrf (grenoble, france) nous a permis d'effectuer des mesures compton a haute energie (60 kev). La geometrie d'analyse (par reflexion, dans le plan horizontal) differente de celle du lure (orsay, france) (par transmission, dans le plan vertical) nous a amene a evaluer la contribution indesirable de la diffusion multiple dans les spectres mesures a l'esrf. Les experiences ont ete menees sur des echantillons d'epaisseurs differentes de silicium et de germanium. Nous avons pu verifier la validite de la simulation monte-carlo pour corriger les profils experimentaux de la diffusion multiple. De plus, pour les elements lourds, tenir compte de la contribution de la diffusion double elastique-inelastique ameliore la correction effectuee. Dans le cadre d'un projet international sur le silicium, nous avons mene des mesures sur le spectrometre du lure (16. 38 kev). Les resultats obtenus montrent un excellent accord avec ceux des mesures effectuees a l'esrf. Il apparait donc que les corrections apportees aux profils mesures au lure et a l'esrf permettent une parfaite reproductibilite des experiences malgre la difference dans la philosophie de construction des deux spectrometres. De plus, le bon accord entre les anisotropies experimentales et theoriques des profils a confirme la validite du modele de calcul pseudo-potentiel choisi par s. Rabii pour decrire la structure