Etude ellipsometrique de films minces de mouillage (effets de l'hygrometrie et de la temperature)
Institution:
Paris 6Disciplines:
Directors:
Abstract EN:
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Abstract FR:
Nous presentons une etude experimentale de phenomenes de mouillage sec a l'echelle moleculaire. Plus precisement nous nous interessons au film precurseur qui se developpe en aval d'une microgoutte de liquide s'etalant spontanement sur un substrat solide lisse. L'epaisseur de tels films varie de quelques angstroms a quelques centaines d'angstroms et leur extension est macroscopique. L'ellipsometrie permet de mesurer leur profil d'epaisseur et de suivre leur evolution. Les proprietes des films minces sont largement controlees par le comportement des premieres couches moleulaires, comportement regi par les interactions a courte portee entre molecules de liquide et substrat. L'analyse de ces profils permet d'obtenir des informations sur ces interactions, tres specifiques du systeme etudie, ainsi que sur les parametres de friction a l'echelle moleculaire. C'est ce que nous montrons en considerant differents couples liquide-solide et en jouant sur deux parametres : la temperature et l'hygrometrie.