thesis

Contribution a la caracterisation quantitative des surfaces formees de plusieurs constituants : mise au point d'une camera pour dosage isotopique des produits pulverises en vue du releve direct des profils de concentration

Defense date:

Jan. 1, 1987

Edit

Disciplines:

Directors:

Abstract EN:

Pas de résumé disponible.

Abstract FR:

Exploitation quantitative de l'abrasion ionique des surfaces solides. Etude des profils de concentration. Mise au point d'une camera a films de kapton permettant d'acceder au nombre d'atomes pulverises. Application a un alliage au-cu. Interpretation theorique par le modele des "atomes ballast". La methode permet d'acceder directement au profil de concentration en profondeur malgre la delectivite du bombardement ionique