Abstract FR:

U un montage de mesures chronoamperometriques permettant la determination du potentiel de bande plate d'une jonction semiconducteur/electrolyte est mise au point. D'autres parametres importants comme la resistance de transfert de charge associee a des etats de surface ou a des reactions d'oxydoreduction sont calcules. Cette methode a permis de mettre en evidence un phenomene de diffusion du a des especes intercalees dans un semiconducteur lamellaire (p-inse)