Abstract FR:

Les dispositifs de conversion de donnees qui associent, sur la meme puce, circuits numerique et analogique, doivent etre caracterises par des methodes specifiques tenant compte de cette dualite. Le travail presente etudie sur ces dispositifs les methodes de caracterisation dynamiques correspondant a un fonctionnement proche d'une utilisation reelle: methode statistique par histogramme, methode spectrale par fft, methode temporelle par "fit". Chacune des analyses possibles est etudiee sur le plan theorique, les parametres qu'elles permettent de mesurer sont deduits, et leurs performances sont comparees. Un systeme de caracterisation a ete realise, et est decrit: il est constitue d'un ensemble informatique pilotant un appareillage electronique relie au composant. Son originalite reside dans la carte d'acquisition implantee dans l'ordinateur et dans le logiciel rassemblant les algorithmes de caracterisation et optimise pour procurer une vitesse de traitement et une convivialite maximales. Des exemples de tests de convertisseurs analogique-numerique sont presentes et etudies, tant au niveau de la methodologie du test que des performances du composant analyse