thesis
Inférence statistique non paramétrique pour l'analyse du taux de panne en fiabilité : Théorèmes limites fonctionnels pour les processus produit-limite et les estimateurs non paramétriques du taux de panne dans les modèles de variables aléatoires arbitrairement censurées
Institution:
Paris 6Disciplines:
Directors:
Abstract EN:
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Abstract FR:
Depuis les trente cinq dernieres annees, les travaux sur les estimateurs produit-limite dans le modele des variables aleatoires arbitraitement censurees ont connu un developpement remarquable. Nous en inferons une loi du logarithme itere pour le processus produit-limite de quantile et introduisons un estimateur du type noyau (base sur des observations incompletes) du taux de panne utilise par exemple en fiabilite. Des theoremes limites et approximations presque sures sont etablis. Nous en deduisons des applications dont une loi fonctionnelle du logarithme itere pour le processus du taux de panne