thesis

Contribution à l'étude des surfaces et interfaces métal-semiconducteur (Ag/Si; Au/Si) par spectroscopie de pertes d'énergies d'électrons lents à haute résolution

Defense date:

Jan. 1, 1986

Edit

Institution:

Aix-Marseille 2

Authors:

Directors:

Abstract EN:

Pas de résumé disponible.

Abstract FR:

Contribution a l'etude des excitations electroniques de surface et interface metal/semiconducteur. L'etude est realisee par spectrometrie de perte d'energie d'electrons lents a haute resolution, diffraction electronique et spectrometrie auger. Etude experimentale et theorique de la dispersion des plasmons d'interface du systeme ag/si. Elaboration d'un modele de croissance de l'interface au/si, d'apres l'evolution de la perte d'energie en fonction de l'epaisseur d'or