thesis
Contribution à l'étude des surfaces et interfaces métal-semiconducteur (Ag/Si; Au/Si) par spectroscopie de pertes d'énergies d'électrons lents à haute résolution
Institution:
Aix-Marseille 2Disciplines:
Directors:
Abstract EN:
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Abstract FR:
Contribution a l'etude des excitations electroniques de surface et interface metal/semiconducteur. L'etude est realisee par spectrometrie de perte d'energie d'electrons lents a haute resolution, diffraction electronique et spectrometrie auger. Etude experimentale et theorique de la dispersion des plasmons d'interface du systeme ag/si. Elaboration d'un modele de croissance de l'interface au/si, d'apres l'evolution de la perte d'energie en fonction de l'epaisseur d'or