thesis
Contribution à l'étude des siliciures de métaux réfractaires en couches minces : excitations électroniques, dans la gamme d'énergie infra-rouge par spectroscopie d'électrons (H.R.E.E.L.S.)
Institution:
Aix-Marseille 2Disciplines:
Directors:
Abstract EN:
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Abstract FR:
Preparation de couches minces de wsi#2 et mosi#2 sous ultravide et caracterisation par spectrometrie de pertes d'energie d'electrons lents a haute resolution, spectrometrie auger, diffraction d'electrons lents, microscopie electronique en transmission et reflexion diffraction de rayons x, en fonction du recouvrement du support de si. Analyse des resultats hreels par la theorie dielectrique et l'analyse de kramers-kronig: l'effet du support ne se manifeste que pour les couches les plus minces, qui sont epitaxiques et stchiometriques