Abstract FR:

L'avenement recent des pointes ultra-fines constituant des sources ponctuelles d'electrons de basse energie a permis le developpement de la microscopie a projection. Nous presentons, ici, l'extension de cette technique a l'holographie par l'addition d'un biprisme electrostatique constitue d'un fil auto-supporte et courbe. Nous avons mis au point une procedure d'amincissement de fils de platine-rhodium par abrasion ionique. Cette methode, completee par une etude en microscopie electronique ex-situ (m. E. B et m. E. T), nous a permis d'obtenir et de caracteriser des fils dont le diametre moyen est d'environ 0. 1m, homogene sur des longueurs de quelques micrometres et dont le diametre minimal est d'environ 0. 05m, sur des longueurs de l'ordre de 0. 1m. Nous avons montre que le diametre du fil n'etait pas le seul parametre a controler, les distances source-objet et source-biprisme devant etre microscopiques. Le positionnement precis du fil par rapport aux differents elements du montage experimental, dans un volume restreint de quelques micrometres cube, a ete realise par l'utilisation de micromanipulateurs (x,y,z) possedant une large dynamique de deplacement avec une precision nanometrique. Nous avons optimise le montage experimental par l'addition d'une lentille electrostatique. Ceci a resolu les differents problemes de positionnement relatif des objets de taille microscopique (la source, l'objet et le biprisme). Le controle des differents parametres experimentaux et la qualite des sources ponctuelles ont permis l'obtention d'hologrammes.