Abstract FR:

Étude structurale par microscopie électronique en transmission de revêtements de TiNδ et Ti2Nε obtenus par pulvérisation cathodique en régime de cathode creuse sur l'acier Z 85 WDVC. Analyse de la morphologie et de l'orientation des cristallites constituant le revêtement au voisinage de l'interface en fonction des paramètres d'élaboration et en particulier de l'état de surface et de la température d'élaboration. Établissement d'une corrélation entre les résultats de cette étude et ceux d'un test d'adhérence des revêtements