Abstract FR:

Cette etude traite de la caracterisation microstructurale des defauts et des interfaces dans les films minces supraconducteurs d'ybacuo. Les principales techniques de caracterisation utilisees sont la methr (microscopie electronique en transmission a haute resolution) et la technique lacbed (diffraction des electrons en faisceau convergent a grand angle). L'influence du desaccord parametrique entre substrat et film mince a ete estimee en utilisant differents substrats mgo(+9%), srtio 3(+2%), laalo 3(-3%). Le phenomene de maclage a ete observe de maniere systematique quelque soient le substrat et les conditions d'elaboration employes. Une analyse statistique des franges de moire observees en vue plane a permis de conclure a la presence d'une phase pseudo-quadratique dans un systeme ybacuo/mgo elabore a (790\c). Des films bi-orientes (c, c) ont ete realises en abaissant la temperature du substrat (725\c). Les joints de grains existant dans ce type de film, ainsi que les defauts qu'ils comportent ont ete analyses par methr et par traitement numerique de ces images. L'etat de deformation induit par la presence des inclusions c a ete etudie par la methode lacbed.