Abstract FR:

Cette etude presente une analyse de l'etat mecanique et microstructurale de films minces supraconducteurs d'ybacuo par diffraction des rayons x et microscopie electronique haute resolution. Les films sont deposes par ablation laser sur substrat de mgo et srtio#3. En utilisant la diffraction des rayons x couplee a une approche tensorielle, nous avons determine les deformations, les contraintes ainsi que les parametres libres de contraintes de la maille ybacuo des films minces. Sur les deux substrats, ces contraintes entrainent une diminution de l'orthorhombicite de la maille. La mesure des contraintes par la methode de la fleche montre la meme tendance. La microscopie electronique en transmission a permis de caracteriser les defauts presents dans le film ainsi que la microstructure de l'interface film-substrat. Une methode d'analyse des images par les franges de moire dans l'espace de fourier est developpee. Il apparait que les contraintes generees par le processus d'elaboration des films sont en grande partie relaxees par differents types de maclage ou la maille d'ybacuo est deformee