Abstract FR:

Au dela de la simple imagerie, les microscopies a champ proche sont reconnues comme une famille d'outils primordiale pour la comprehension de nombreux phenomenes physiques, comme le frottement, a l'echelle locale. Nous elaborons des couches minces de materiaux lamellaires, et avons utilise le microscope a force atomique sur ce type de materiaux afin d'evaluer les informations qu'il etait succeptible de nous apporter. Nos premiers travaux sur des monocristaux de materiaux lamellaires (mos 2, nbse 2 et moo 3) nous ont permis de relier des mesures de frottement faites a l'afm a leurs proprietes physicochimiques. Les investigations ont ete etendues a moo 3 sous forme de couches minces polycristallines. Dans le cadre d'un nouveau theme de recherche du laboratoire, nous nous sommes ensuite interesses aux monocouches organiques auto-assemblees. Nous avons ainsi elabore des monocouches de decanethiols sur au(111), et les avons caracterisees par stm et afm jusqu'a l'echelle moleculaire. L'afm nous a egalement servi a mener des travaux preliminaires de mesure d'adherence pointe / surface sur ots greffes sur silice. L'objectif a terme etant de pouvoir realiser des images de contraste chimique sur une surface recouverte par differents groupements fonctionnels.