thesis

Etude des interfaces Ta/Si (111) et Ta/Si (100) par différentes techniques d'analyse de surface

Defense date:

Jan. 1, 1989

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Institution:

Aix-Marseille 2

Disciplines:

Materials science and engineering

Authors:

Directors:

Abstract EN:

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Abstract FR:

Etude des proprietes structurales et electroniques des interfaces ta/si (111) et ta/si (100) elaborees sous ultra-vide. Ces systemes sont caracterises in situ par spectrometrie auger (aes), diffraction d'electrons lents (leed), spectroscopie de pertes d'energie d'electrons (eels), photoemission directe (ups), et ex situ par microscopie electronique a balayage