Abstract FR:

Détermination de la variation de l'indice de réfraction du ZnS (due à un champ électrique) par des mesures d'électroreflectance dans des structures Al-ZnS-Al. Calcul des épaisseurs optiques des couches de ZnS par minimisation des écarts entre les spectres théoriques et expérimentaux. Mise en évidence d'effets d'électroréfraction pour les longueurs d'onde en-deça de 400 nm et d'electroabsorption au-dela de 400 nm.