Abstract FR:

LE TRAVAIL PRESENTE DANS CETTE THESE A POUR SUJET PRINCIPAL LA CARACTERISATION DE SUPRACONDUCTEURS HAUTE TEMPERATURE CRITIQUE DEPOSES PAR SERIGRAPHIE SOUS LA FORME DE FILMS EPAIS SUR DES SUBSTRATS A BASE DE SILICIUM, UTILISES CLASSIQUEMENT DANS LA TECHNOLOGIE DES SEMICONDUCTEURS. LES SUBSTRATS SONT (Si/SiO2, Si/Si3N4, Si/Si3N4/Ag) AINSI QUE SUR Y2O3 ET ALLIAGE DE FER. LES TRAITEMENTS THERMIQUES ONT ETE DETERMINES EN FONCTION DE LA GRANULOMETRIE DE LA POUDRE INITIALE ET LA NATURE DE CHAQUE SUBSTRAT. LES DIFFERENTES CARACTERISATIONS PHYSIQUES ET MORPHOLOGIQUES ONT ETE EFFECTUEES SUR LES FILMS: R(T), (T), RX, MEB, TEM AVEC ANALYSE EDX. LA COMPARAISON DES RESULTATS A MONTRE QUE: LES PROPRIETES DE TRANSPORT S'AMELIORENT DANS LE CAS DU SUBSTRAT Si/Si3N4/Ag. LA DIFFUSION DE L'ARGENT PENDANT LE CYCLE DE FRITTAGE PERMET UNE MEILLEURE INTERCONNECTION ENTRE LES GRAINS SUPRACONDUCTEURS DONC UNE AMELIORATION DE LA DENSITE DE COURANT CRITIQUE ET DE L'ADHERENCE SUR LE SUBSTRAT. LE SILICIUM DIFFUSE DANS LE FILM POUR CHAQUE TYPE DE SUBSTRAT A BASE DE SILICIUM; A L'INTERFACE, IL Y A FORMATION DE PHASES INTERMEDIAIRES ENTRE YBaCuO ET LE SUBSTRAT DONT ON A IDENTIFIE LA COMPOSITION. ON A DETERMINE LES MECANISMES D'INTERACTION DANS LES DIFFERENTS CAS, ET MONTRE L'EXISTENCE ET L'INFLUENCE DE PHASES LIQUIDES. DES ESSAIS DE TEXTURATION DES FILMS ONT ETE TENTES DANS LE BUT D'AMELIORER LES VALEURS DE COURANT CRITIQUE, SOIT SOUS CHAMP MAGNETIQUE STATIQUE A TEMPERATURE AMBIANTE SOIT EN PHASE LIQUIDE, SUR SUBSTRAT Y2O3