Abstract FR:

Ce travail s'inscrit dans le cadre général des activités gravitant autour de la technique de microscopie électronique. Notamment, la spectroscopie de photons X est un moyen très riche qu’utilisent les physiciens et les métallurgistes. . . Son champ d'application est couramment l'étude de matériaux nouveaux qui, plus complexes, voient souvent leur développement conditionné à une caractérisation microstructurale poussée. Notre travail apporte une contribution à la méthodologie d'exploitation des spectres X acquis sur les microscopes électroniques à transmission. Nous avons analysé et proposé une méthode d'évaluation des résultats de cas complexes, qui se rencontrent lors d'observations de matériaux réels en microscopie. Ces cas se regroupent dans une même problématique, celle de l'analyse chimique très locale à proximité d'interface(s) ou plus largement, d'une ségrégation chimique. Nous avons approché le problème par la voie de la simulation de l'émission X, couplée à une méthode mathématique de déconvolution des effets d'élargissement du faisceau d'électrons. Elle s'est poursuivie par la mise au point de logiciels spécifiques de simulation, développés sur micro-ordinateurs de type PC. Leur écriture à l'aide de Visual-Basic permet une présentation conviviale à l'utilisateur microscopiste. Le travail se poursuit par l'analyse de trois cas rencontrés dans le laboratoire : Répartition de l'espèce Titane à l'interface Mullite/Zircone dans une céramique thermomécanique - Relevé du gradient de concentration en Cuivre après son implantation dans de l'Alumine alpha - Processus de corrosion aux joints de grain lors du fluage d'une alumine dopée au Magnésium et au Potassium. Ces résultats obtenus à l'issue de ces études de cas, montrent l'intérêt de notre approche, mais aussi, celui offert par nos logiciels, qui pourront servir les utilisateurs intéressés.